Equipo disponible:

Microscopio electrónico de transmisión, JEOL-2100 de 200 kV con filamento de LaB6. Con una resolución de 0.23 nm punto a punto  y 0.14 nm línea a línea. Alcanza magnificaciones de 2000 x a 1.5 M x, en modo normal, y de 50x a 6000x en modo de baja magnificación.  La adquisición de las micrografías se lleva acabo de manera digital a través de una Cámara CCD de Gatan, modelo SC200. Se tiene acoplado un  detector de rayos X  para análisis por  Dispersión de Energía (EDS) marca NORAN. Está también equipado con dos detectores para STEM, de campo claro (BF-detector) y anular de campo obscuro (ADF-detector).  Es posible también realizar difracción de electrones de área selecta.

Microscopio electrónico de barrido, JEOL JSM-6510LV; voltaje de aceleración de 1 a 30 kV, filamento de tungsteno, cuenta con detectores de electrones secundarios y retrodispersos, en modalidad de alto vacío; en modalidad de bajo vacío, cuenta con detector de electrones retrodispersos, resolución máxima de 5nm  en modalidad de alto vacío y con electrones secundarios.  Alcanza magnificaciones de 30x a 300,000x  Acoplado a detector de rayos X, para hacer análisis químico por medio de Dispersión de Energía (EDS) marca OXFORD, con resolución de 137 eV.

Para la preparación de muestras se cuenta con una cámara de  sputtering  marca DENTON  Desk IV  con recubridor de oro y de grafito, sistema de vacío con aire de 30 a 1000 mtorr, con capacidad para 8 muestras.

Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) modelo MFP-3D Origin, ASYLUM RESEARCH, con un rango de barrido XY de 90 µm a  =1 µm y de 10 µm en Z. Escáner desacoplado en XY y Z, permite muestras de hasta 80 mm de diámetro. Este equipo también permite la generación de perspectiva en 3D con imágenes de resolución de 192 a 448 puntos por línea. Trabaja en medio ambiental y posee modo contacto, oscilatorio y de curvas de fuerzas.

Microscopio Confocal de barrido láser (CLSM), modelo TCS SPE / CTR 4000, marca LEICA, Es un microscopio invertido que cuenta con 4 láseres de Solid State con longitudes de onda de emisión de 405nm, 488nm, 532nm y 635nm (dispositivos láser clase 3B/IIIb). Objetivos de 10X y de inmersión (40X y 63X). Cuenta con el software LAS AF, para composición de vistas 3D